KARAKTERISASI DIFRAKSI SERBUK YTRIA NANOPARTIKEL HASIL PENGGILINGAN

  • Erni Junita Sinaga Institut Teknologi Nasional Malang
Keywords: yttria, difraksi, variasi waktu, penggilingan, analisis Rietveld

Abstract

Telah dilakukan karakterisasi difraksi sinar-x pada serbuk yttria nanopartikel dengan metode ball milling (penggilingan basah). Serbuk yttria diberi perlakuan mekanik menggunakan planetary ball milling dengan variasi waktu 0, 1, 5, 10, dan 20 jam dengan kecepatan penggilingan 100 rpm. Analisis kualitatif dilakukan melalui difraksi sinar-x pada serbuk asal dan serbuk setelah perlakuan penggilingan. Analisis lanjut data difraksi tersebut dilakukan menggunakan perangkat lunak MAUD untuk mengestimasikan ukuran kristal (Dv) dan sebarannya serta regangan yang terjadi akibat penggilingan. Hasil analisis Rietveld menunjukkan regangannya semakin besar, ukuran kristal semakin mengecil dan sebaran ukuran kristalnya semakin menyempit akibat variasi waktu penggilingan.

Downloads

Download data is not yet available.
Published
2011-06-25