ANALISIS BEBAN KERJA KARYAWAN QUALITY CONTROL DENGAN MENGGUNAKAN METODE SUBJECTIVE WORKLOAD ASSESMENT TECHNIQUE STUDY KASUS DI PT. MALINDO INTI TAMA RAYA SINGOSARI-MALANG

  • Yehezkiel Osborn Oroh Oroh Teknik Industri ITN Malang
Keywords: S.W.A.T, Workload, Aplikasi,Pengukuran

Abstract

Persaingan dan tuntutan profesionalitas yang semakin tinggi menimbulkan banyaknya tekanan-tekanan yang harus dihadapi karyawan dalam lingkungan kerja. Selain tekanan yang berasal dari lingkunga kerja juga terdapat tekanan yang berasal dari lingkungan keluarga sangat berpotensial menimbulkan kecemasan. Dampak yang sangat merugikan dari adanya gangguan kecemasan yang sering dialami oleh karyawan disebut stres, maka dari itu diperlukan pengukuran beban kerja pada karyawan.

Metode yang di pakai untuk pengukuran beban kerja  aplikasi Subjective Workload Assesment Technique (S.W.A.T). Data yang di olah dalam aplikasi S.W.A.T  di dapat dengan teknik pengurutan kartu (Scale Development) pada setiap karyawan, selanjutnya data yang di dapat dari pengurutan kartu di olah dalam aplikasi S.W.A.T untuk mendapatkan nilai variabel deskripsi Time, Effort, dan Stress (T.E.S) dari masing-masing objek sampel, setelah itu dilakukan Tahap event Scoring.

  Beban kerja Kognitif karyawan yang didapat adalah Faktor waktu  merupakan hal yang sangat berpengaruh terhadap keadaan beban kerja mental para karyawan. Hal ini terlihat dari kepentingan relatif masing-masing faktor adalah adalah 47.85% yang menunjukkan bahwa pekerja secara kolektif lebih mengutamakan faktor waktu (T) dalam mempertimbangkan beban kerja. Sedangkan faktor berikutnya yaitu faktor Stress (S) sebesar 23.50 % dan disusul faktor usaha mental (E) sebesar  28.65 %.     

Downloads

Download data is not yet available.
Published
2019-12-18
How to Cite
OrohY. O. O. (2019). ANALISIS BEBAN KERJA KARYAWAN QUALITY CONTROL DENGAN MENGGUNAKAN METODE SUBJECTIVE WORKLOAD ASSESMENT TECHNIQUE STUDY KASUS DI PT. MALINDO INTI TAMA RAYA SINGOSARI-MALANG. Jurnal Valtech, 1(1), 251-256. Retrieved from https://ejournal.itn.ac.id/index.php/valtech/article/view/224