PENGENDALIAN KUALITAS DENGAN MENGGUNAKAN METODE STASTICAL QUALITY CONTROL GUNA MEMINIMALISASI PRODUK GAGAL PADA PT. MALINDO INTITAMA RAYA

  • Dwi Purwanto Teknik Industri S-1, Intitut Tekhnologi Nasional Malang
  • Sumanto Sumanto Teknik Industri S-1, Intitut Tekhnologi Nasional Malang
  • Renny Septiari Teknik Industri S-1, Intitut Tekhnologi Nasional Malang
Keywords: Perbaikan Kualitas, manusia, kepercayaan, Statistical Quality Control

Abstract

Abstrak, PT. Malindo Intitama Raya merupakan perusahan yang memproduksi berbagai macam panel, plastik, sofa, spring bed dan kasur busa, sebagi perusahaan manufaktur diminta untuk menjaga kualitas hasil produk yang dihasilkan bertujuan untuk agar konsumen selalu memberikan ketetapan dalam pemesanan produk. Dalam skripsi ini tujuan penelitian ini untuk mengendalikan kualitas mutu menggunakan stastical quality control guna meminimalisasi produk gagal pada PT. Malindo Intitama Raya. Dalam observasi ini, data diolah menggunakan metode Statistical Quality Control. Pengumpulan data produksi yang gagal, selanjutnya membuat histogram serta peta kendali. PT. Malindo Intitama Raya pada divisi injection mengoptimalkan dan mengurangi hasil produk gagal pada jenis produk gagal Short Shot 36,5%, produk gagal pecah 25,3%, dan produk gagal Flow Warna 38,1%. Penyebab hasil produksi yang gagal dikarenakan faktor manusia, mesin, proses produksi dan material, faktor tersebut dapat diketahui dari analisa diagram fishbone, perusahaan bisa menindak lanjuti pencegahan dan memperbaiki sistem untuk meminimalisasi produk gagal. Hasil dari  pemeriksaan selama berlangsungnya produksi dengan metode Statistical Quality Control, maka menghasilkan perubahan pada peningkatan produk gagal pada divisi injection.

Downloads

Download data is not yet available.
Published
2023-01-28
How to Cite
PurwantoD., SumantoS., & SeptiariR. (2023). PENGENDALIAN KUALITAS DENGAN MENGGUNAKAN METODE STASTICAL QUALITY CONTROL GUNA MEMINIMALISASI PRODUK GAGAL PADA PT. MALINDO INTITAMA RAYA. Jurnal Valtech, 5(2), 152-159. Retrieved from https://ejournal.itn.ac.id/index.php/valtech/article/view/5490