ANALISIS PENYEBAB TERJADINYA CACAT PRODUK MENGGUNAKAN STATISTICAL PROCESS CONTROL PADA PROSES PRODUKSI PLYWOOD

  • MOH SYAIFUL ISHLAH Teknik Industri S-1 Institut Teknologi Nasional Malang
  • Prima Vitasari Teknik Industri, Institut Teknologi Nasional Malang
  • Emmalia Adriantantri Teknik Industri, Institut Teknologi Nasional Malang

Abstract

PT X merupakan perusahaan yang memproduksi plywood untuk kebutuhan domestik dan ekspor.. Salah satu permasalahan yang dihadapi adalah tingginya jumlah cacat pada produk plywood tipe floor base 8,9 mm, yang berdampak pada penurunan mutu dan efisiensi produksi. Penelitian ini bertujuan untuk menganalisis penyebab terjadinya cacat produk dengan menerapkan metode Statistical Process Control (SPC). Tiga alat utama SPC yang digunakan dalam penelitian ini adalah check sheet, histogram, dan peta kendali (U-Chart). Produksi sepanjang tahun 2024 menunjukkan bahwa tingkat kecacatan produk berada pada kisaran beberapa persen dari total output tahunan, dengan jumlah cacat yang teridentifikasi mencapai puluhan ribu unit. Berdasarkan hasil check sheet dan histogram, cacat overlapp teridentifikasi sebagai jenis cacat paling dominan dengan kontribusi sebesar 25,02% dari total cacat. Hasil analisis peta kendali U-Chart menunjukkan bahwa proses produksi belum sepenuhnya berada dalam batas kendali kualitas, ditunjukkan oleh adanya titik yang keluar dari batas atas kendali. Temuan ini mengindikasikan bahwa terdapat variasi khusus dalam proses produksi berupa cacat overlap. Berdasarkan analisis data dan hasil observasi lapangan, cacat overlap utamanya disebabkan oleh ketidaksesuaian proses pada tahap repair core, glue spreader, keterlibatan faktor manusia, dan metode kerja yang belum konsisten.

Downloads

Download data is not yet available.
Published
2025-11-20
How to Cite
MOH SYAIFUL ISHLAH, Prima Vitasari, & Emmalia Adriantantri. (2025). ANALISIS PENYEBAB TERJADINYA CACAT PRODUK MENGGUNAKAN STATISTICAL PROCESS CONTROL PADA PROSES PRODUKSI PLYWOOD. Jurnal Valtech, 8(2), 146-151. https://doi.org/10.36040/valtech.v8i2.15725